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天瑞EDx射線熒光譜分析儀是一種較新型的可以對多元眾進行快速同時側定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的內層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線（即X一熒光）.波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩 EDx射線熒光譜分析儀EDX3600H是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。

天瑞X熒光光譜儀EDX3600K由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。X熒光光譜儀屬于良好的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構。

國內X熒光光譜儀Edx9000p正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用分析儀器行業(yè)良好的極速探測器技術（X-SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000P還采用了天瑞儀器產品精密的定位系統(tǒng)，可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設計自動樣品平臺讓準確檢測得到保證。

XRF熒光光譜儀EDX4500H是一種較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的內層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線（即X熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。

國產X熒光光譜分析儀EDX4500H是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。 該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。